1996-2000
Fermi level determination in organic thin films by the Kelvin probe method
Typ der Veröffentlichung
Zeitschriftenaufsatz
Veröffentlicht in
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
Jahrgang/Erscheinungsjahr
1996
Band/Vol.
80
Heftnummer/Issue
12
Seiten
6880-6883
Referiert
Nein
ISSN
0021-8979
Url/Urn/Doi
Berichtsjahr
1996
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