Details zur Lehrveranstaltung
Scanning electron microscopy | |
Modul: | Phy-Ba-Vert: Physikalische Vertiefung |
Lecture language | German |
Summary of Lecture: | Set up of an SEM; image contrasts; determination of chemical composition; analysis of crystal structure, phase distribution and crystal lattice orientation; quantitative determination of internal strains and stresses; imaging of extended defects; investigation of optical and electrical properties of semiconductor materials |
data set up-to-date | |
Scope: | lecture: 2 hours/week |
Time/location: | FR(4) REC/B214 |
Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
Specialization area: | |
Previous knowledge: | Experimentalphysik III | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
Enrolment: | Freitag, 07.04.2017 zur ersten |
Web-reference: | https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/hlp/studium/lehrveranstaltungen |
In die Vorlesung sollen praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert werden, die nach Rücksprache auch an Untersuchungsproben der Teilnehmer durchgeführt werden können. |