Course Details

Rasterelektronenmikroskopie
Modul:	Phy-Ba-Vert: Physikalische Vertiefung
Vorlesungssprache	Deutsch
Inhalt der Lehrveranstaltung:	Aufbau und Strahlführung am REM; physikalische Ursachen für den Bildkontrast; Bestimmung der chemischen Zusammensetzung; Analyse der Kristallstruktur, der Phasenverteilung und der Orientierung des Kristallgitters; Bestimmung von Verzerrungsfeldern und inneren Spannungen; Abbildung ausgedehnter Defekte; Untersuchung optischer und elektrischer Eigenschaften von Halbleitermaterialien
	Datensatz aktualisiert
Umfang:	Vorlesung: 2 Stunden/Woche
Zeit/Ort:	FR(4) REC/B214
Hörerkreis:	Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle)
Vertiefungsgebiet:
Vorkenntnisse:	Experimentalphysik III
Nachweis:	Teilnahmebestätigung
Einschreibung:	Freitag, 07.04.2017 zur ersten
Web-Referenz:	https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/hlp/studium/lehrveranstaltungen
In die Vorlesung sollen praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert werden, die nach Rücksprache auch an Untersuchungsproben der Teilnehmer durchgeführt werden können.