Details zur Lehrveranstaltung
Scanning electron microscopy | |
Modul: | Phy-Ba-Vert: Physikalische Vertiefung |
Lecture language | German |
Summary of Lecture: | Set up of an SEM; image contrasts; determination of chemical composition; analysis of crystal structure, phase distribution and crystal lattice orientation; imaging of extended defects and quantitative determination of their strain field; investigation of optical and electrical properties of semiconductor materials |
data set up-to-date | |
Scope: | lecture: 2 hours/week |
Time/location: | FR(2) PHY/C118 |
Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
Specialization area: | |
Previous knowledge: | Experimentalphysik III | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
Enrolment: | Freitag, 08.04.2016 zur ersten |
Web-reference: | http://tu-dresden.de/die_tu_dresden/fakultaeten/fakultaet_mathematik_und_naturwissenschaften/fachrichtung_physik/iap/hlp/lehre |
In die Vorlesung sollen praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop Zeiss Ultra55 mit Feldemissionskathode integriert werden. Dafür können auch individuelle Termine vereinbart werden. |