Details zur Lehrveranstaltung
| Scanning electron microscopy | |
| Modul: | Phy-Ba-PV: Physikalische Vertiefung |
| Lecture language | German |
| Summary of Lecture: | Set up of an SEM; image contrast; determination of chemical composition of samples; analysis of crystal structure, phase distribution and crystal lattice orientation; quantitative determination of internal strains and stresses; investigation of optical and electrical properties of semiconductor materials |
| data set up-to-date | |
| Scope: | lecture: 2 hours/week |
| Time/location: | MO(2) WIL/A221 |
| Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Specialization area: | |
| Previous knowledge: | Experimentalphysik III, Atom- und Festkörperphysik | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
| Enrolment: | Ab sofort in OPAL sowie am Montag, den 06.04.2020 in der 1. VL |
| Web-reference: | https://bildungsportal.sachsen.de/opal/auth/RepositoryEntry/10931634176/CourseNode/93374047727556 |
| In die Vorlesung werden praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert, die nach Rücksprache mit mir auch an eigenen Untersuchungsproben durchgeführt werden können. | |