Veröffentli­chungen 2009

41 bis 50 von 64 Einträgen

Schütz, A.; Henning, S.; Heeg, J.; Adolphi, B.; Schwarz, C.; Litschke, H.; Wienecke, M.: Adhesive porous DLC-coatings by modified PECVD process. In: Proc. E-MRS Spring-Meeting, Strasbourg, 8.-12. Juni 2009 (2009)

Kalanda, M.A.; Lobanovsky, L.S.; Gurskii, L.I.; Telesh, E.V.; Kotov, D.A.; Saad, A.; Adolphi, B.; Plötner, M.: Structure and magnetic properties of SR2FeMoO6 nanosized films Physics. In: Chemistry and Application of Nanostructures 2009 (2009), S. 248

Suchaneck, G.; Volkonskiy, O.; Hubicka, Z.; Dejneka, A.; Jastrabik, L.; Adolphi, B.; Bertram, M.; Gerlach, G.: Titania seed layers for PZT thin film growth on coppercoated kapton films. In: Integrated Ferroelectrics 108 (2009), S. 57–66

Hossbach, C.; Teichert, S.; Thomas, J.; Wilde, L.; Wojcik, H.; Schmidt, D.; Adolphi, B.; Bertram, M.; Mühle, U.; Albert, M.; Menzel, S.; Hintze, B.: Properties of Plasma-Enhanced Atomic Layer Depostion-Grown Tantalum Carbonitrade Thin Films. In: J. Electrochem. Soc. 156_11 (2009), S. 852–859

Beshchasna, N.; Uhlemann, J. ; Adolphi, B.; Granovsky, S.; Wolter, K.-J.: Biostability issues of flash gold surfaces. In: Proc. of 59th Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2009), May 26-29 2009, San Diego, CA, USA IEEE (2009), S. 1071–1079

Künzelmann, U.: Herstellung und Anwendung von mikrostrukturierten  Siliciumwafern als Reflexionselemente für die Untersuchung chemisch-physikalischer Oberflächenprozesse mittels ATR-FTIR-Spektroskopie. In: 14. AKES-Seminar, 06.02.2009 (2009)

Künzelmann, U.; Schumacher, H.; Bartha, J.W.: Investigation of Surface Processes by ATR-FTIR Spectroscopy at Microstructured Silicon Wafers. In: 23rd CMP User Meeting, 09.10.2009 (2009)

Schumacher, H. ; Künzelmann, U.; Bartha, J.W.: Einsatz spezieller Koppelstrukturen für die FT-IR-spektroskopische Schichtcharakterisierung an Si-Wafern mittels abgeschwächter Totalreflexion. In: ANAKON, 17.-20.03.2009 (Kurzreferate) (2009), S. 288

Wenzel, C.; Bartha, J.W.; Bublik, V.T.; Shcherbachev, K.D.; Novodvorsky, O.A.; Gorbatenko, L.S.; Panchenko, V.Ya.; Khramova, O.D.; Cherebilo, Ye.A.: Optical and Structural Characteristics of Ga-doped ZnO Films. In: Semiconductors Vol. 43, Nr. 4 (2009), S. 419–424

Strobel, C.: Dynamische VHF-PECVD für die großflächige Abscheidung von amorphen und mikrokristallinem Silizium auf Glas- und Foliensubstraten. In: Silicon Saxony Day, Dresden (2009)

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Kerstin Kunz
Letzte Änderung: 14.09.2016