SPIE Photonics West 2026 - BiOS Konferenz

Unsere Doktorand:innen Miriam Sasse und Christian Schmidt präsentierten auf der Photonics West 2026 in San Francisco wegweisende Ergebnisse aus ihrer Doktorarbeit. Als weltweit führende Plattform für Lasertechnologien und biophotonische Innovationen bietet die Veranstaltung ein ideales Forum für Wissenschaft, Industrie und Forschung. In der zentralen SPIE BiOS-Konferenz stellten sie ihre Arbeiten zu polarisationssensitiver und dynamischer OCT vor – mit Fokus auf die präzise Analyse von Zahnhartgewebe und oralen Geweben. Ihre Beiträge in den Sessions „Polarization Sensitive OCT I“ und „Dynamic Contrast OCT II“ unterstreichen die hohe wissenschaftliche Relevanz und Innovationskraft unserer Forschung.  

Christian Schmidt hielt einen Vortrag im Rahmen der Session „Polarization Sensitive OCT I“ der Optical Coherence Tomography and Coherence Domain Optical Methods in Biomedicine XXX, die Teil der BiOS-Konferenzreihe ist. Sein Beitrag „Single-input polarization-sensitive optical coherence tomography for estimating local polarization states and optical properties in teeth“ zeigt, wie PS-OCT nicht nur strukturelle, sondern auch polarisationsabhängige Eigenschaften von Zahnhartgewebe ex vivo analysieren kann.

© Miriam Sasse

Miriam Sasse präsentierte ihren Vortrag in der Session „Dynamic Contrast OCT II“ mit dem Thema „Frequency-resolved dynamic contrast OCT and HSV-based visualization of oral mucosa“. Ihre Arbeit demonstriert, wie dynamische Signalfluktuationen in den Gewebeschichten der oralen Mukosa genutzt werden können, um biologische Prozesse wie Mikrozirkulation und Zellmigration zu erfassen.

Beide präsentierten die Ergebnisse von Herrn Johannes Reinhold als Poster mit dem Titel „Characterization of a polarization sensitive ultra-high resolution visible-light OCT system“ auf der Konferenz „Polarized Light and Optical Angular Momentum for Biomedical Diagnostics 2026“. Sein Beitrag  stellt ein hochauflösendes PS-OCT-System mit einer axialen Auflösung von nur 1,38 µm und einer Messtiefe von bis zu 1,38 mm vor.