Physikalische Grundlagen der TEM-Instrumentierung,
Anwendung optischer Prinzipien in der Elektronenmikroskopie,
Elektronenemission und Strahlbildung,
Elektronenoptik (magnetische Linsen, Ablenker, Bildfehler),
Wellenoptik mit Elektronen (Beugung, Interferenz),
Elektronenmikroskopie und Holographie mit atomarer Auflösung.