Details zur Lehrveranstaltung
| Scanning probe microscopy | |
| Modul: | Phy-Ba-PV: Physikalische Vertiefung |
| Vorlesungssprache | Englisch |
| Inhalt der Lehrveranstaltung: | Scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and scanning near-field optical microscopy; physical principles (tunneling current, atomic forces, optical near field), instrumental realization (feedback system, vibration isolation, etc.), various modes of operation, applications in physics, chemistry, and biology (imaging and spectroscopy), nanomanipulation |
| Datensatz aktualisiert | |
| Umfang: | Vorlesung: 2 Stunden/Woche |
| Zeit/Ort: | MO(5) REC/B214 |
| Hörerkreis: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Vertiefungsgebiet: | Angewandte Festkörperphysik und Photonik (Vorlesung im Wahlpflichtvertiefungsgebiet) |
| Vorkenntnisse: | Physik-Vordiplom | Nachweis: | Schein |
| Einschreibung: | Erste Vorlesungsstunde (09.04.2018) |
| Web-Referenz: | https://bildungsportal.sachsen.de/opal/auth/RepositoryEntry/23265411073 |
| Vorlesung in Englisch. | |