Details zur Lehrveranstaltung
| Rasterelektronenmikroskopie | |
| Modul: | Phy-Ba-PV: Physikalische Vertiefung |
| Vorlesungssprache | Deutsch |
| Inhalt der Lehrveranstaltung: | Aufbau und Strahlführung am REM; Bildkontrast; Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Proben; Analyse der Kristallstruktur, der Phasenverteilung und der Orientierung des Kristallgitters; Bestimmung von Verzerrungsfeldern und inneren Spannungen; Untersuchung optischer und elektrischer Eigenschaften von Halbleitermaterialien |
| Datensatz aktualisiert | |
| Umfang: | Vorlesung: 2 Stunden/Woche |
| Zeit/Ort: | MO(2) WIL/A221 |
| Hörerkreis: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Vertiefungsgebiet: | |
| Vorkenntnisse: | Experimentalphysik III, Atom- und Festkörperphysik | Nachweis: | Teilnahmebestätigung |
| Einschreibung: | Ab sofort in OPAL sowie am Montag, den 06.04.2020 in der 1. VL |
| Web-Referenz: | https://bildungsportal.sachsen.de/opal/auth/RepositoryEntry/10931634176/CourseNode/93374047727556 |
| In die Vorlesung werden praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert, die nach Rücksprache mit mir auch an eigenen Untersuchungsproben durchgeführt werden können. | |