Details zur Lehrveranstaltung
| Scanning electron microscopy | |
| Modul: | Phy-Ba-Vert: Physikalische Vertiefung |
| Lecture language | German |
| Summary of Lecture: | Set up of an SEM; image contrast; determination of chemical composition; analysis of crystal structure, phase distribution and crystal lattice orientation; quantitative determination of internal strains and stresses; investigation of optical and electrical properties of semiconductor materials; imaging of extended defects |
| data set up-to-date | |
| Scope: | lecture: 2 hours/week |
| Time/location: | MO(2) REC/B214 |
| Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Specialization area: | |
| Previous knowledge: | Experimentalphysik III | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
| Enrolment: | Montag, 09.04.2018 zur ersten Vorlesung |
| Web-reference: | https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/hlp/studium/lehrveranstaltungen |
| In die Vorlesung werden praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert, die nach Rücksprache mit mir auch an eigenen Untersuchungsproben durchgeführt werden können. | |