Details zur Lehrveranstaltung
| Rastersondenmikroskopie | |
| Modul: | Phy-Ma-Vert: Physikalische Vertiefung |
| Vorlesungssprache | Deutsch |
| Inhalt der Lehrveranstaltung: | Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie, optische Nahfeldmikroskopie: physikalische Grundlagen (Tunnelstrom, atomare Kräfte, optisches Nahfeld), apparative Grundlagen (Regelkreis, Schwingungsentkopplung, etc.), verschiedene Messmodi, Anwendungsbeispiele aus Physik, Chemie und Biologie (Abbildung und Spektroskopie), Nanomanipulation |
| Datensatz aktualisiert | |
| Umfang: | Vorlesung: 2 Stunden/Woche |
| Zeit/Ort: | MO(5) REC/B214 |
| Hörerkreis: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Vertiefungsgebiet: | Angewandte Festkörperphysik und Photonik (Vorlesung im Wahlpflichtvertiefungsgebiet) |
| Vorkenntnisse: | Physik-Vordiplom | Nachweis: | Schein |
| Einschreibung: | Erste Vorlesungsstunde |
| Web-Referenz: | https://lehre.iap.phy.tu-dresden.de/materialien/ |
| Vorlesung in Englisch. | |