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621 bis 630 von 709 Einträgen

Sandner, T.; Schenk, H.; Lakner, H.; Kenda, A.; Scherf, W.: Einsatz translatorischer MOEMS-Aktoren für FTIR-Spektrometer. In: Mikrosystemtechnik Kongress, 15.-17.10.07 in Dresden (2007), S. 485–488

Schmidt, J.U.; Knobbe, J.; Gehner, A.; Lakner, H.: CMOS integrable micro mirrors with highly improved drift stability . In: Proc. MEMS adaptive optics 6467 (2007), S. 64670R–1–64670R–11

Wildenhain, M.; Knobbe, J.; Gehner, A.; Wagner, M.; Lakner, H.: AO SLM demonstration system and test bed. In: SPIE Digital Library, Proceedings of SPIE 6467 (2007), S. 6467–6.467e–06

Wildenhain, M.; Knobbe, J.; Gehner, A.; Beyerlein, M.; Pfund, J.: Adaptiv-optische Abbildungskorrektur mit Wellenfrontsensoren und Mikrospiegelarrays. In: Photonik 3 (2007), S. 72–75

Günther, T.W.; Hartebrodt, M.; Lakner, H.: Leistungsmessung in öffentlichen Forschungseinrichtungen. In: Wissenschaftsmanagement 1 (2007), S. 28–35

Arndt, K.-F.; Richter, A.: Smarte Hydrogele: Softies mit Power. In: GIT Labor-Fachzeitschrift 6/2006 (2006)

Arndt, K.-F.; Richter, A.: Smart Hydrogels: Unique Polymeric Materials with Great Potential. In: G.I.T. Imaging & Microscopy 2/2006 (2006)

Starke, E.; Landgraf, J.; Pfeifer, G.; Roscher, K.-U.: Integrierte Sensornetzwerke in Faserverbundwerkstoffen. In: Sensoren und Messsysteme 2006, 13. ITG/GMA-Fachtagung, Freiburg (2006), S. 329–332

Schmidt, D.; Hossbach, C.; Albert, M.; Bartha, J.W.; Menzel, S.: In-Situ Metrology for improved Atomic Layer Deposited TaN Properties by Supplying Additional Energy. In: Agent. Proc. AVS ALD Conf., San Francisco (US) avail, online (2006)

Schlenker, L.; Ulbricht, B.; Fischer, W.-J.: MILEON Service & Training. In: Proc. Workshop on e-Learning, Leipzig 2006 (2006)

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Martin Knaut
Letzte Änderung: 29.05.2019