Publikationen

2023

• Enhanced Electrical Properties of Optimized Vertical Graphene-Base Hot Electron TransistorsStrobel, C., Chavarin, C. A., Völkel, S., Jahn, A., Hiess, A., Knaut, M., Albert, M. & 5 weitere, 28 März 2023, in: ACS applied electronic materials. 5, 3, S. 1670–1675, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Reduced fatigue and leakage of ferroelectric TiN/Hf_0.5Zr_0.5O₂/TiN capacitors by thin alumina interlayers at the top or bottom interfaceHsain, H. A., Lee, Y., Lancaster, S., Lomenzo, P. D., Xu, B., Mikolajick, T., Schroeder, U. & 2 weitere, 19 März 2023, in: Nanotechnology. 34, 12, 10 S., 125703Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Band-to-band tunneling switches based on two-dimensional van der Waals heterojunctionsChava, P., Fekri, Z., Vekariya, Y., Mikolajick, T. & Erbe, A., 1 März 2023, in: Applied Physics Reviews. 10, 1, 25 S., 011318Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Übersichtsartikel (Review)
• Reliability Improvement from La₂O₃ Interfaces in Hf_0.5Zr_0.5O₂-Based Ferroelectric CapacitorsMehmood, F., Alcala, R., Vishnumurthy, P., Xu, B., Sachdeva, R., Mikolajick, T. & Schroeder, U., März 2023, in: Advanced materials interfaces. 10, 8, 10 S., 2202151 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Thermal Stability of the Ferroelectric Properties in 100 nm-Thick Al_0.72Sc_0.28NGuido, R., Lomenzo, P. D., Islam, M. R., Wolff, N., Gremmel, M., Schönweger, G., Kohlstedt, H. & 4 weitere, 8 Feb. 2023, in: ACS Applied Materials and Interfaces. 15, 5, S. 7030-7043, 14 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• From Ferroelectric Material Optimization to Neuromorphic DevicesMikolajick, T., Park, M. H., Begon-Lours, L. & Slesazeck, S., 3 Feb. 2023, in: Advanced materials. 35, 37, 22 S., 2206042Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Übersichtsartikel (Review)
• Novel experimental methodologies to reconcile large- and small-signal responses of Hafnium-based Ferroelectric Tunnel JunctionsMassarotto, M., Driussi, F., Affanni, A., Lancaster, S., Slesazeck, S., Mikolajick, T. & Esseni, D., Feb. 2023, in: Solid-state electronics. 200, 200, 108569Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Dependence of reverse leakage on the edge termination process in vertical GaN power deviceXie, T., da Silva, C., Szabó, N., Mikolajick, T. & Wachowiak, A., Jan. 2023, in: Semiconductor science and technology. 38, 1, 7 S., 015014Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• A highly reliable 1.8 V 1 Mb Hf_0.5Zr_0.5O₂-based 1T1C FeRAM Array with 3-D CapacitorsOkuno, J., Kunihiro, T., Yonai, T., Ono, R., Shuto, Y., Alcala, R., Lederer, M. & 5 weitere, 2023, 2023 International Electron Devices Meeting, IEDM 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-4Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Atomic layer etching of nanowires using conventional reactive ion etching toolKhan, M. B., Shakeel, S., Richter, K., Ghosh, S., Erbe, A. & Georgiev, Y. M., 2023, in: Journal of Physics: Conference Series. 2443, 1, 012004Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Konferenzartikel