Publikationen

2023

• Reducing the tunneling barrier thickness of bilayer ferroelectric tunnel junctions with metallic electrodesLancaster, S., Segatto, M., Silva, C., Max, B., Mikolajick, T., Esseni, D., Driussi, F. & 1 weitere, 2023, 2023 Device Research Conference, DRC 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Single Transistor Analog Building Blocks: Exploiting Back-Bias Reconfigurable DevicesBhattacharjee, N., Reuter, M., Hofmann, K., Mikolajick, T. & Trommer, J., 2023, 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-5Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Special Session: Mitigating Side-Channel Attacks Through Circuit to Application Layer ApproachesKavand, N., Darjani, A., Trommer, J., Galderisi, G., Mikolajick, T., Muller, N., Moradi, A. & 8 weitere, 2023, Proceedings - 2023 International Conference on Hardware/Software Codesign and System Synthesis, CODES+ISSS 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 8-17, 10 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Vertical Graphene-Based Transistors for Power Electronics, Optoelectronics and Radio-Frequency ApplicationsStrobel, C., Chavarin, C. A., Wenger, C., Albert, M. & Mikolajick, T., 2023, 2023 IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference, NMDC 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 196-201, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband

2022

• Sputtered Ferroelectric Hafnium-Zirconium Oxide with High Remanent Polarization after Back-End-of-Line Compatible AnnealingWang, X., Mikolajick, T. & Grube, M., 27 Dez. 2022, in: ACS applied electronic materials. 4, 12, S. 6142-6148, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Using Raman spectroscopy and x-ray diffraction for phase determination in ferroelectric mixed Hf_1-xZr_xO₂-based layersSchroeder, U., Sachdeva, R., Lomenzo, P. D., Xu, B., Materano, M., Mikolajick, T. & Kersch, A., 7 Dez. 2022, in: Journal of applied physics. 132, 21, 13 S., 214104Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Neuromorphic devices based on fluorite-structured ferroelectricsLee, D. H., Park, G. H., Kim, S. H., Park, J. Y., Yang, K., Slesazeck, S., Mikolajick, T. & 1 weitere, Dez. 2022, in: Infomat. 4, 12, e12380Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Three-to-one analog signal modulation with a single back-bias-controlled reconfigurable transistorSimon, M., Mulaosmanovic, H., Sessi, V., Drescher, M., Bhattacharjee, N., Slesazeck, S., Wiatr, M. & 2 weitere, Dez. 2022, in: Nature communications. 13, 1, 7042Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Influence and mitigation of interference by LID and LETID in damp heat and thermal cycling tests on PV modulesFokuhl, E., Mülhöfer, G., Wesselak, V., Mikolajick, T., Philipp, D. & Gebhardt, P., 1 Nov. 2022, in: Journal of Renewable and Sustainable Energy. 14, 6, 10 S., 063501Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Assessment of Back-End-of-Line Compatibility of Sputtered HfO2-Based FerroelectricsWang, X., Mikolajick, T. & Grube, M., Okt. 2022, in: Physica Status Solidi - Rapid Research Letters. 16, 10, 2100572Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel