Publikationen

2021

• The Case for Ferroelectrics in Future Memory DevicesMikolajick, T., Schroeder, U. & Slesazeck, S., 8 April 2021, 2021 5th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference, EDTM 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 9420821Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reconfigurable thin-film transistors based on a parallel array of Si-nanowiresJeon, D., Park, S. J., Pregl, S., Mikolajick, T. & Weber, W. M., 28 März 2021, in: Journal of applied physics. 129, 12, 124504 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Next generation ferroelectric materials for semiconductor process integration and their applicationsMikolajick, T., Slesazeck, S., Mulaosmanovic, H., Park, M. H., Fichtner, S., Lomenzo, P. D., Hoffmann, M. & 1 weitere, 14 März 2021, in: Journal of applied physics. 129, 10, 100901Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Reliability aspects of ferroelectric hafnium oxide for application in non-volatile memoriesMulaosmanovic, H., Lomenzo, P. D., Schroeder, U., Slesazeck, S., Mikolajick, T. & Max, B., März 2021, 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2021 - Proceedings. 9405215Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Nano Security: From Nano-Electronics to Secure Systems.Polian, I., Altmann, F., Arul, T., Boit, C., Brederlow, R., Davi, L., Drechsler, R. & 16 weitere, 1 Feb. 2021, Proceedings of the 2021 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2021. S. 1334-1339, 6 S., 9474187Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Perspective on ferroelectric, hafnium oxide based transistors for digital beyond von-Neumann computingBreyer, E. T., Mulaosmanovic, H., Mikolajick, T. & Slesazeck, S., 1 Feb. 2021, in: Applied physics letters. 118, 5, 050501Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Übersichtsartikel (Review)
• Progress and future prospects of negative capacitance electronics: A materials perspectiveHoffmann, M., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., 1 Feb. 2021, in: APL materials. 9, 2, 020902 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Übersichtsartikel (Review)
• Impact of vacancies and impurities on ferroelectricity in PVD- and ALD-grown HfO2 filmsBaumgarten, L., Szyjka, T., Mittmann, T., Materano, M., Matveyev, Y., Schlueter, C., Mikolajick, T. & 2 weitere, 18 Jan. 2021, in: Applied physics letters. 118, 3, 032903Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Stabilizing the ferroelectric phase in HfO2-based films sputtered from ceramic targets under ambient oxygenMittmann, T., Michailow, M., Lomenzo, P. D., Gärtner, J., Falkowski, M., Kersch, A., Mikolajick, T. & 1 weitere, 14 Jan. 2021, in: Nanoscale. 13, 2, S. 912-921, 10 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Light-tunable 2D subband population in a GaN/AlGaN heterostructureSolovyev, V. V., Schmult, S., Krückeberg, L., Großer, A., Mikolajick, T. & Kukushkin, I. V., 4 Jan. 2021, in: Applied physics letters. 118, 1, 013101Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel