Publikationen

2025

• Ferroelectric Al_1-xSc_xN Opposite State Retention Model Based on Switching DynamicsGuido, R., Gremmel, M., Mikolajick, T., Fichtner, S. & Schroeder, U., 6 März 2025, in: Advanced functional materials. 35, 31, 2421793Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Interaction Between Strain and Phase Formation in Hf_xZr_1-xO₂ Thin FilmsWunderwald, F., Xu, B., Kersch, A., Holsgrove, K. M., Kao, Y. C., Richter, C., Enghardt, S. & 2 weitere, 5 März 2025, in: Small. 21, 9, 2408133Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Channel Length Dependence of Effective Barrier Height Experienced by Charge Carriers in Schottky-Barrier Transistors Based on Si-Nanowire ArraysJeon, D. Y., Park, S. J., Pregl, S., Trommer, J., Heinzig, A., Mikolajick, T. & Weber, W. M., 4 März 2025, in: IEEE journal of the Electron Devices Society. 13, S. 168-172, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Analyzing Carrier Density and Hall Mobility in Impurity-Free Silicon Virtually Doped by External Defect PlacementNagarajan, S., Ratschinski, I., Schmult, S., Wirth, S., König, D., Mikolajick, T., Hiller, D. & 1 weitere, 12 Feb. 2025, in: Advanced functional materials. 35, 7, 2415230Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Bi-Linearity of Back Gated Schottky Barrier Transistors on an Industrial 22nm FDSOI Platform for Efficient In-Hardware Matrix-Vector Multiplication and AdditionMartinez, J. P., Bhattacharjee, N., He, Y., Galderisi, G., O'Connor, I., Mikolajick, T. & Trommer, J., 2025, 2025 23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference, NEWCAS 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 470-474, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Circuit Polymorphism Enabled by RFET Devices Processed on Industrial FDSOIBhattacharjee, N., Galderisi, G., He, Y., Sessi, V., Drescher, M., Havel, V., Zier, M. & 15 weitere, 2025, 9th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference: Shaping the Future with Innovations in Devices and Manufacturing, EDTM 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 3 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Comparative Study of Switching Dynamics in Ferroelectric-based Capacitors with Different Design OptionsDriussi, F., Rocco, E., Massarotto, M., Lancaster, S., Slesazeck, S., Mikolajick, T. & Esseni, D., 2025, ICMTS 2025 - Proceedings of the 2025 IEEE 37th International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Impact of Interfacial SiO₂ Layer Thickness on the Electrical Performance of SiO₂/High-k Stacks on 4H-SiCKrause, S., Mikhaylov, A., Schroeder, U., Mikolajick, T. & Wachowiak, A., 2025, Processes in Devices Fabrication. Trans Tech Publications Ltd, S. 17-25, 9 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Buch/Sammelband/Gutachten
• Multi-Partner Project: Smart Sensor Analog Front-Ends Powered by Emerging Reconfigurable Devices (SENSOTERIC)Galderisi, G., Kramer, A., Fuchsberger, A., Gonzalez-Medina, J. M., He, Y., Hung, L. C., Hong Li, M. J. & 17 weitere, 2025, 2025 Design, Automation and Test in Europe Conference, DATE 2025 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• NDR Effects in a Locally-Active Memristor Induce Small-Signal Amplification in a Simple CellAscoli, A., Gemo, E., Corinto, F., Bonnin, M., Gilli, M., Civalleri, P. P., Demirkol, A. S. & 7 weitere, 2025, 2025 14th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies, MOCAST 2025 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-9Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband