Publikationen

2019

• Unveiling the double-well energy landscape in a ferroelectric layerHoffmann, M., Fengler, F., Herzig, M., Mittmann, T., Max, B., Schroeder, U., Negrea, R. & 3 weitere, 2019, in: Nature. 565, S. 464–467Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel

2018

• Green coloring of GaN single crystals introduced by Cr impurityZimmermann, F., Gärtner, G., Sträter, H., Röder, C., Barchuk, M., Bastin, D., Hofmann, P. & 4 weitere, 24 Nov. 2018, in: Journal of luminescence. 207, S. 507-511, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Characterization of self-assembled monolayers for Cu-Cu bonding technologyLykova, M., Langer, E., Hinrichs, K., Panchenko, J., Meyer, J., Künzelmann, U., Wolf, M. J. & 1 weitere, 16 Okt. 2018, in: Microelectronic Engineering. 202, S. 19-24, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Ferroelectric tunnel junctions based on ferroelectric-dielectric Hf_0.5Zr_0.5.O₂/A1₂O₃ capacitor stacksMax, B., Hoffmann, M., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., 8 Okt. 2018, 2018 48th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2018. Editions Frontieres, S. 142-145, 4 S., 8486882Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Off-state impact on FDSOI ring oscillator degradation under high voltage stressTrommer, J., Havel, V., Chohan, T., Mehmood, F., Slesazeck, S., Krause, G., Bossu, G. & 3 weitere, Okt. 2018, 2018 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Band 2018. 5 S., 8727101Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• A wired-AND transistor: Polarity controllable FET with multiple inputsSimon, M., Trommer, J., Liang, B., Fischer, D., Baldauf, T., Khan, M. B., Heinzig, A. & 6 weitere, 20 Aug. 2018, 2018 76th Device Research Conference, DRC 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 8442159Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Genuinely Ferroelectric Sub-1-Volt-Switchable Nanodomains in HfxZr(1–x)O2 Ultrathin CapacitorsStolichnov, I., Cavalieri, M., Colla, E., Schenk, T., Mittmann, T., Mikolajick, T., Schroeder, U. & 1 weitere, 14 Aug. 2018, in: ACS applied materials & interfaces. 10, 36, S. 30514–30521, 8 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Vertically Integrated Reconfigurable Nanowire ArraysBaldauf, T., Heinzig, A., Mikolajick, T. & Weber, W. M., Aug. 2018, in: IEEE electron device letters. 39, 8, S. 1242 - 1245Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Electron spin resonance in a 2D system at a GaN/AlGaN heterojunctionShchepetilnikov, A. V., Frolov, D. D., Solovyev, V. V., Nefyodov, Y. A., Großer, A., Mikolajick, T., Schmult, S. & 1 weitere, 30 Juli 2018, in: Applied physics letters. 113, 5, 052102Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric MemoriesPesic, M., Schroeder, U., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., Juni 2018, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 18, 2, S. 154-162, 9 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel