Publikationen

2018

• Off-state impact on FDSOI ring oscillator degradation under high voltage stressTrommer, J., Havel, V., Chohan, T., Mehmood, F., Slesazeck, S., Krause, G., Bossu, G. & 3 weitere, Okt. 2018, 2018 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Band 2018. 5 S., 8727101Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• A wired-AND transistor: Polarity controllable FET with multiple inputsSimon, M., Trommer, J., Liang, B., Fischer, D., Baldauf, T., Khan, M. B., Heinzig, A. & 6 weitere, 20 Aug. 2018, 2018 76th Device Research Conference, DRC 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 8442159Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Genuinely Ferroelectric Sub-1-Volt-Switchable Nanodomains in HfxZr(1–x)O2 Ultrathin CapacitorsStolichnov, I., Cavalieri, M., Colla, E., Schenk, T., Mittmann, T., Mikolajick, T., Schroeder, U. & 1 weitere, 14 Aug. 2018, in: ACS applied materials & interfaces. 10, 36, S. 30514–30521, 8 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Vertically Integrated Reconfigurable Nanowire ArraysBaldauf, T., Heinzig, A., Mikolajick, T. & Weber, W. M., Aug. 2018, in: IEEE electron device letters. 39, 8, S. 1242 - 1245Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Electron spin resonance in a 2D system at a GaN/AlGaN heterojunctionShchepetilnikov, A. V., Frolov, D. D., Solovyev, V. V., Nefyodov, Y. A., Großer, A., Mikolajick, T., Schmult, S. & 1 weitere, 30 Juli 2018, in: Applied physics letters. 113, 5, 052102Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric MemoriesPesic, M., Schroeder, U., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., Juni 2018, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 18, 2, S. 154-162, 9 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Nanoscopic studies of domain structure dynamics in ferroelectric La:HfO2 capacitorsBuragohain, P., Richter, C., Schenk, T., Lu, H., Mikolajick, T., Schroeder, U. & Gruverman, A., 28 Mai 2018, in: Applied physics letters. 112, 22, 222901 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• On the relationship between field cycling and imprint in ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2Fengler, F. P. G., Hoffmann, M., Slesazeck, S., Mikolajick, T. & Schroeder, U., 28 Mai 2018, in: Journal of applied physics. 123, 20, 204101 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Ferroelectric negative capacitance domain dynamicsHoffmann, M., Khan, A. I., Serrao, C., Lu, Z., Salahuddin, S., Pešić, M., Slesazeck, S. & 2 weitere, 14 Mai 2018, in: Journal of applied physics. 123, 18, 184101Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Al-, Y-, and La-doping effects favoring intrinsic and field induced ferroelectricity in HfO2: A first principles studyMaterlik, R., Künneth, C., Falkowski, M., Mikolajick, T. & Kersch, A., 28 April 2018, in: Journal of applied physics. 123, 164101Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel