Publikationen

2018

• Origin of Temperature-Dependent Ferroelectricity in Si-Doped HfO2Park, M. H., Chung, C., Schenk, T., Richter, C., Hoffmann, M., Wirth, S., Jones, J. L. & 2 weitere, 2018, in: Advanced electronic materials. 4, 4, 1700489Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Physical and circuit modeling of HfO₂ based ferroelectric memories and devicesPesic, M., Di Lecce, V., Hoffmann, M., Mulaosmanovic, H., Max, B., Schroeder, U., Slesazeck, S. & 2 weitere, 2018, 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S). 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Physical Approach to Ferroelectric Impedance Spectroscopy: The Rayleigh ElementSchenk, T., Hoffmann, M., Pešić, M., Park, M., Richter, C., Schroeder, U. & Mikolajick, T., 2018, in: Physical review applied. 10, 6, 064004Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Reconfigurable NAND-NOR circuits fabricated by a CMOS printing techniqueHeinzig, A., Pregl, S., Trommer, J., Mikolajick, T. & Weber, W., 2018, 2017 IEEE 12th Nanotechnology Materials and Devices Conference, NMDC 2017Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reconfigurable NAND/NOR logic gates in 28 nm HKMG and 22 nm FD-SOI FeFET technologyBreyer, E., Mulaosmanovic, H., Mikolajick, T. & Slesazeck, S., 2018, Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDMElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reconfigurable Si Nanowire Nonvolatile TransistorsPark, S. J., Jeon, D., Piontek, S., Grube, M., Ocker, J., Sessi, V., Heinzig, A. & 4 weitere, 2018, in: Advanced electronic materials. 4, 1, 1700399Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Review and perspective on ferroelectric HfO₂-based thin films for memory applicationsPark, M., Lee, Y., Mikolajick, T., Schroeder, U. & Hwang, C., 2018, in: MRS communications. 8, S. 795–808, 14 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• SDVSRM - a new SSRM based technique featuring dynamically adjusted, scanner synchronized sample voltages for measurement of actively operated devicesDoering, S., Wachowiak, A., Roetz, H., Eckl, S. & Mikolajick, T., 2018, in: Ultramicroscopy. 193, S. 24-32Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Thermodynamic and Kinetic Origins of Ferroelectricity in Fluorite Structure OxidesPark, M., Lee, Y., Mikolajick, T., Schroeder, U. & Hwang, C., 2018, in: Advanced electronic materials. 5, 3, 1800522Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Towards Full-area Passivating Contacts for Silicon Surfaces based on Al₂O₃-TiO_x Double LayersTröger, D., Grube, M., Knaut, M., Reif, J., Bartha, J. & Mikolajick, T., 2018, 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC). S. 2176-2179Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband