Publikationen

2017

• Exploiting transistor-level reconfiguration to optimize combinational circuitsRaitza, M., Kumar, A., Völp, M., Walter, D., Trommer, J., Mikolajick, T. & Weber, W., 2017, Proceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• How to make DRAM non-volatile? Anti-ferroelectrics: A new paradigm for universal memoriesPesic, M., Knebel, S., Hoffmann, M., Richter, C., Mikolajick, T. & Schroeder, U., 2017, Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDMElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Human α-thrombin detection platform using aptamers on a silicon nanowire field-effect transistorRoemhildt, L., Zoergiebel, F., Ibarlucea, B., Vahdatzadeh, M., Baraban, L., Cuniberti, G., Pregl, S. & 3 weitere, 2017, 2017 27th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-4Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• In-depth electrical characterization of carrier transport in ambipolar Si-NW Schottky-barrier FETsJeon, D., Baldau, T., Park, S., Pregi, S., Baraban, L., Cuniberti, G., Mikolajick, T. & 1 weitere, 2017, European Solid-State Device Research ConferenceElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Modeling and design considerations for negative capacitance field-effect transistorsHoffmann, M., Pešić, M., Slesazeck, S., Schroeder, U. & Mikolajick, T., 2017, Joint International EUROSOl Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon-ULIS, EUROSOI-ULIS 2017 - ProceedingsElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Novel ferroelectric FET based synapse for neuromorphic systemsMulaosmanovic, H., Ocker, J., Muller, S., Noack, M., Muller, J., Polakowski, P., Mikolajick, T. & 1 weitere, 2017, Digest of Technical Papers - Symposium on VLSI TechnologyElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Optimizing process conditions for improved Hf_1 − xZrxO₂ ferroelectric capacitor performanceMittmann, T., Fengler, F., Richter, C., Park, M. H., Mikolajick, T. & Schroeder, U., 2017, in: Microelectronic Engineering. 178, S. 48-51, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Pseudo-vertical GaN-based trench gate metal oxide semiconductor field effect transistorHentschel, R., Wachowiak, A., Großer, A., Jahn, A., Merkel, U., Wille, A., Kalisch, H. & 3 weitere, 2017, ASDAM 2016 - Conference Proceedings, 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and MicrosystemsElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reliability comparison of ZrO₂-based DRAM high-k dielectrics under DC and AC stressKnebel, S., Zhou, D., Schroeder, U., Slesazeck, S., Pešíc, M., Agaiby, R., Heitmann, J. & 1 weitere, 2017, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 17, 2, S. 324 - 330Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Surface and grain boundary energy as the key enabler of ferroelectricity in nanoscale hafnia-zirconia: a comparison of model and experimentPark, M. H., Lee, Y. H., Kim, H. J., Schenk, T., Lee, W., Kim, K. D., Fengler, F. P. G. & 3 weitere, 2017, in: Nanoscale. 9, 28, S. 9973-9986, 14 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel