Publikationen

2016

• Root cause of degradation in novel HfO2-based ferroelectric memoriesPesic, M., Fengler, F., Slesazeck, S., Schroeder, U., Mikolajick, T., Larcher, L. & Padovani, A., 2016, 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Strain-engineering for improved tunneling in reconfigurable silicon nanowire transistorsBaldauf, T., Heinzig, A., Mikolajick, T., Weber, W. & Trommer, J., 2016, 2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2016Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• TEM Study of Schottky Junctions in Reconfigurable Silicon Nanowire DevicesBanerjee, S., Löffler, M., Muehle, U., Berent, K., Heinzig, A., Trommer, J., Weber, W. & 1 weitere, 2016, in: Advanced engineering materials. 18, 2, S. 180-184, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Versatile resistive switching in niobium oxideMikolajick, T., Wylezich, H., Maehne, H. & Slesazeck, S., 2016, 2016 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 381-384, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband

2015

• ALD Al2O3 based nanolaminates for solar cell applicationsSimon, D. K., Jordan, P. M., Knaut, M., Chohan, T., Mikolajick, T. & Dirnstorfer, I., 14 Dez. 2015, 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2015. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 7356401Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Using vertical capacitance-voltage measurements for fast on-wafer characterization of epitaxial GaN-on-Si materialSchuster, M., Wachowiak, A., Groh, L., Szabõ, N., Merkel, U., Jahn, A. & Mikolajick, T., 1 Dez. 2015, in: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 212, 12, S. 2897-2902, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Investigation of band gap and permittivity of the perovskite CaTiO3 in ultrathin layersKrause, A., Weber, W. M., Pohl, D., Rellinghaus, B., Kersch, A. & Mikolajick, T., 21 Okt. 2015, in: Journal Physics D: Applied Physics. 48, 41Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Breakdown and Protection of ALD Moisture Barrier Thin FilmsNehm, F., Klumbies, H., Richter, C., Singh, A., Schroeder, U., Mikolajick, T., Moench, T. & 5 weitere, 14 Okt. 2015, in: ACS applied materials & interfaces. 7, 40, S. 22121-22127, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Integration of niobium oxide-based resistive switching cells with different select properties into nanostructured cross-bar arraysWylezich, H., Reinhardt, E., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., 9 Okt. 2015, in: Semiconductor science and technology. 30, 11, 115014Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Stress-Dependent Performance Optimization of Reconfigurable Silicon Nanowire TransistorsBaldauf, T., Heinzig, A., Trommer, J., Mikolajick, T. & Weber, W. M., Okt. 2015, in: IEEE electron device letters. 36, 10, S. 991-993, 3 S., 7217784Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel