Publikationen

2015

• ALD Al2O3 based nanolaminates for solar cell applicationsSimon, D. K., Jordan, P. M., Knaut, M., Chohan, T., Mikolajick, T. & Dirnstorfer, I., 14 Dez. 2015, 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2015. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 7356401Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Using vertical capacitance-voltage measurements for fast on-wafer characterization of epitaxial GaN-on-Si materialSchuster, M., Wachowiak, A., Groh, L., Szabõ, N., Merkel, U., Jahn, A. & Mikolajick, T., 1 Dez. 2015, in: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 212, 12, S. 2897-2902, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Investigation of band gap and permittivity of the perovskite CaTiO3 in ultrathin layersKrause, A., Weber, W. M., Pohl, D., Rellinghaus, B., Kersch, A. & Mikolajick, T., 21 Okt. 2015, in: Journal Physics D: Applied Physics. 48, 41Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Breakdown and Protection of ALD Moisture Barrier Thin FilmsNehm, F., Klumbies, H., Richter, C., Singh, A., Schroeder, U., Mikolajick, T., Moench, T. & 5 weitere, 14 Okt. 2015, in: ACS applied materials & interfaces. 7, 40, S. 22121-22127, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Integration of niobium oxide-based resistive switching cells with different select properties into nanostructured cross-bar arraysWylezich, H., Reinhardt, E., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., 9 Okt. 2015, in: Semiconductor science and technology. 30, 11, 115014Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Stress-Dependent Performance Optimization of Reconfigurable Silicon Nanowire TransistorsBaldauf, T., Heinzig, A., Trommer, J., Mikolajick, T. & Weber, W. M., Okt. 2015, in: IEEE electron device letters. 36, 10, S. 991-993, 3 S., 7217784Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Detailed analysis of oxide related charges and metal-oxide barriers in terrace etched Al2O3 and HfO2 on AlGaN/GaN heterostructure capacitorsWinzer, A., Szabó, N., Ocker, J., Hentschel, R., Schuster, M., Schubert, F., Gärtner, J. & 2 weitere, 25 Sept. 2015, in: Journal of applied physics. 118, 12, 124106 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Energy monitoring of high dose ion implantation in semiconductors via photocurrent measurementEichenseer, C., Poeppel, G. & Mikolajick, T., Aug. 2015, in: Microelectronics Reliability. 55, 9-10, S. 1369-1372, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Stability analysis supports memristor circuit designAscoli, A., Tetzlaff, R., Slesazeck, S., Mahne, H. & Mikolajick, T., 27 Juli 2015, 2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1138-1141, 4 S., 7168839Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Scaling and Graphical Transport-Map Analysis of Ambipolar Schottky-Barrier Thin-Film Transistors Based on a Parallel Array of Si NanowiresJeon, D. Y., Pregl, S., Park, S. J., Baraban, L., Cuniberti, G., Mikolajick, T. & Weber, W. M., 8 Juli 2015, in: Nano letters. 15, 7, S. 4578-4584, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel