Publikationen

2013

• Key concepts behind forming-free resistive switching incorporated with rectifying transport propertiesShuai, Y., Ou, X., Luo, W., Mücklich, A., Bürger, D., Zhou, S., Wu, C. & 6 weitere, 2013, in: Scientific reports. 3, 2208Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Millisecond flash lamp annealing for LaLuO₃ and LaScO ₃ high-k dielectricsLehmann, J., Hübner, R., Borany, J. V., Skorupa, W., Mikolajick, T., Schäfer, A., Schubert, J. & 1 weitere, 2013, in: Microelectronic Engineering. 109, S. 381-384, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• New color sensor concept based on single spectral tunable photodiodeWachowiak, A., Slesazeck, S., Jordan, P., Holz, J. & Mikolajick, T., 2013, ESSDERC 2013 - Proceedings of the 43rd European Solid-State Device Research Conference. IEEE Computer Society, Washington , S. 127-130, 4 S., 6818835Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Performance investigation and optimization of Si:HfO₂ FeFETs on a 28 nm bulk technologyMueller, S., Yurchuk, E., Slesazeck, S., Mikolajick, T., Müller, J., Herrmann, T. & Zaka, A., 2013, S. 248-251, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag zu Konferenzen > Paper
• Reconfigurable nanowire electronics - Device principles and circuit prospectsWeber, W. M., Trommer, J., Martin, D., Grube, M., Heinzig, A. & Mikolajick, T., 2013, ESSDERC 2013 - Proceedings of the 43rd European Solid-State Device Research Conference. IEEE Computer Society, Washington , S. 246-251, 6 S., 6818865Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reliability Characteristics of Ferroelectric Si: HfO2 Thin Films for Memory ApplicationsMikolajick, T., Mueller, S., Muller, J. & Schroeder, U., 2013, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 13, 1, S. 93 - 97, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Room temperature fabricated NbOx/Nb2O5 memory switching device with threshold switching effectMahne, H., Wylezich, H., Slesazeck, S., Mikolajick, T., Vesely, J., Klemm, V. & Rafaja, D., 2013, 2013 5th IEEE International Memory Workshop. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Sensitivity analysis for OMOG and EUV photomasks characterized by UV-NIR Spectroscopic EllipsometryHeinrich, A., Dirnstorfer, I., Bischoff, J., Meiner, K., Richter, U. & Mikolajick, T., 2013, Photomask Technology 2013. 88801VElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Silicon nanowires - A versatile technology platformMikolajick, T., Heinzig, A., Trommer, J., Pregl, S., Grube, M., Cuniberti, G. & Weber, W., 2013, in: Physica Status Solidi - Rapid Research Letters. 7, 10, S. 793-799, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Strontium doped hafnium oxide thin films: Wide process window for ferroelectric memoriesSchenk, T., Mueller, S., Schroeder, U., Materlik, R., Kersch, A., Popovici, M., Adelmann, C. & 2 weitere, 2013, European Solid-State Device Research ConferenceElektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband