Publikationen

2011

• Polarity behavior and adjustment in silicon nanowire Schottky junction transistorsWeber, W. M., Heinzig, A. & Mikolajick, T., 2011, Dielectrics in Nanosystems -and- Graphene, Ge/III-V, Nanowires and Emerging Materials for Post-CMOS Applications 3. 3 Aufl., S. 93-101, 9 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• RF-Magnetron Sputtered Dielectric Backside PassivationBenner, F., Tarasova, M., Moll, P., Jakschik, S., Dirnstorfer, I., Knaut, M. & Mikolajick, T., 2011, Proceedings of the 26th European Photovoltaic Solar Energy ConferencePublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband

2010

• The influence of bottom oxide thickness on the extraction of the trap energy distribution in SONOS (silicon-oxide-nitride-oxide-silicon) structuresBernert, K., Oestreich, C., Bollmann, J. & Mikolajick, T., Juli 2010, in: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 100, 1, S. 249-255, 7 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Improved high-temperature etch processing of high-k metal gate stacks in scaled TANOS memory devicesPaul, J., Beyer, V., Czernohorsky, M., Beug, M. F., Biedermann, K., Mildner, M., Michalowski, P. & 5 weitere, Mai 2010, in: Microelectronic Engineering. 87, 5-8, S. 1629-1633, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• An empirical model describing the MLC retention of charge trap flash memoriesMelde, T., Hoffmann, R., Yurchuk, E., Paul, J. & Mikolajick, T., 2010, 2010 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, IIRW 2010. S. 118-120, 3 S., 5706502Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Carbon junction implant: Effect on leakage currents and defect distributionRoll, G., Jakschik, S., Goldbach, M., Mikolajick, T. & Frey, L., 2010, 2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, ESSDERC 2010. S. 329-332, 4 S., 5618224Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Investigation of nano-patterned PZT thin films by piezoresponse force microscopyWaegner, M., Haußmann, A., Hoffmann, M., Suchaneck, G., Gerlach, G. & Eng, L. M., 2010, Electronics System Integration Technology Conference, ESTC 2010 - Proceedings. 5642928Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Reliability of Al2O3-doped ZrO2 high-k dielectrics in three-dimensional stacked metal-insulator-metal capacitorsErben, E., Heitmann, J., Jegert, G., Kerber, M., Knebel, S., Mikolajick, T., Schroeder, U. & 3 weitere, 2010, in: Journal of applied physics. 108, 124104 Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel

2009

• Unravelling the mechanisms behind mixed catalysts for the high yield production of single-walled carbon nanotubesTetali, S., Zaka, M., Schönfelder, R., Bachmatiuk, A., Börrnert, F., Ibrahim, I., Lin, J. H. & 4 weitere, 22 Dez. 2009, in: ACS Nano. 3, 12, S. 3839-3844, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Nonvolatile Memory Concepts Based on Resistive Switching in Inorganic MaterialsKever, T., Kund, M., Mikolajick, T. & Salinga, M., 2009, in: Advanced engineering materials. 11, 4, S. 235-240, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel