Publikationen
675 Einträge
2024
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REDCAP: Reconfigurable RFET-Based Circuits Against Power Side-Channel Attacks, 2024, 2024 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2024 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1692-1697Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Reliability of Reconfigurable Field Effect Transistors: Early Analysis of Bias Temperature Instability, 2024, 2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-7Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Small-Signal Characterization and Modelling of a Back Bias Reconfigurable Field Effect Transistor, 2024, ESSERC 2024 - Proceedings: 50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference. IEEE Computer Society, S. 741-744, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Speeding-Up Emerging Device Development Cycles by Generating Models via Machine-Learning directly from Electrical Measurements, 2024, ESSERC 2024 - Proceedings: 50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference. IEEE Computer Society, S. 217-220, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Understanding the impact of the dielectric layer in modulating the TER of FTJ devices, 2024, ESSERC 2024 - Proceedings: 50th IEEE European Solid-State Electronics Research Conference. IEEE Computer Society, S. 408-411, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Understanding the Substrate Effect on De-embedding Structures Fabricated on SOI Wafers Using Electromagnetic Simulation, 2024, 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2024 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
2023
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The RGATE: An 8-in-1 Polymorphic Logic Gate Built From Reconfigurable Field Effect Transistors, 25 Dez. 2023, in: IEEE electron device letters. 45, 3, S. 496-499, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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Hyper Dimensional Computing with Ferroelectric Tunneling Junctions, 18 Dez. 2023, Proceedings of the 18th ACM International Symposium on Nanoscale Architectures, NANOARCH 2023. Association for Computing Machinery, 3Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Direct writing immersion laser lithography on graphene monolayers using two-photon absorption, 1 Dez. 2023, in: Journal of vacuum science & technology : JVST ; B, Nanotechnology & microelectronics : materials, processing, measurement, & phenomena. 41, 6, 11 S., 062604Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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Strain as a Global Factor in Stabilizing the Ferroelectric Properties of ZrO2, 10 Nov. 2023, in: Advanced functional materials. 34, 8, 11 S., 2311825Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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