Publikationen

2017

• Abstract: An analysis of LSM caching in NVRAMLersch, L., Oukid, I., Lehner, W. & Schreter, I., 14 Mai 2017, DAMON '17: Proceedings of the 13th International Workshop on Data Management on New Hardware. Association for Computing Machinery (ACM), New York, 5 S., 9Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Big data causing big (TLB) problems: Taming random memory accesses on the GPUKarnagel, T., Ben-Nun, T., Werner, M., Habich, D. & Lehner, W., 14 Mai 2017, DAMON '17: Proceedings of the 13th International Workshop on Data Management on New Hardware. Association for Computing Machinery (ACM), New York, 10 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Cu passivation with self-assembled monolayers for direct metal bonding in 3D integrationLykova, M., Panchenko, I., Geidel, M., Reif, J., Wolf, J. M. & Lang, K., 14 Mai 2017, 2017 40th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-6, 6 S., 8000916Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Fabrication and characterization of precise integrated titanium nitride thin film resistors for 2.5D interposerSingh, R., Boettcher, M., Panchenko, I., Fiedler, C., Schwarz, A. & Wolf, J., 14 Mai 2017, 2017 40th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-6, 6 S., 8000913Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Influence of flux-assisted isothermal storage on intermetallic compounds in Cu/SnAg microbumpsWambera, L., Panchenko, I., Steller, W., Müller, M. & Wolf, M. J., 14 Mai 2017, 2017 40th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-6, 6 S., 8000909Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Temperature & pressure correlation for volume of gas hydrates with crystal structures sI & sIIVinš, V., Jäger, A., Hielscher, S., Span, R., Hrubý, J. & Breitkopf, C., 12 Mai 2017, in: EPJ Web of Conferences. 143, 02141Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Konferenzartikel
• Accounting for systematic errors in approximate computingBruestel, M. & Kumar, A., 11 Mai 2017, Proceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017. Lausanne: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 298-301, 4 S., 7927003Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Embracing approximate computing for energy-efficient motion estimation in high efficiency video codingEl-Harouni, W., Rehman, S., Prabakaran, B. S., Kumar, A., Hafiz, R. & Shafique, M., 11 Mai 2017, Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017. Lausanne: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1384-1389, 6 S., 7927209Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Rethinking on-chip DRAM cache for simultaneous performance and energy optimizationHameed, F. & Castrillon, J., 11 Mai 2017, Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017. Lausanne: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 362-367, 6 S., 7927017Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• SecureCloud: Secure big data processing in untrusted cloudsKelbert, F., Gregor, F., Pires, R., Kopsell, S., Pasin, M., Havet, A., Schiavoni, V. & 3 weitere, 11 Mai 2017, Proceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017. Lausanne: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 282-285, 4 S., 7926999Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband