Publikationen
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20054 Einträge
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Integrated Adjustable Phase Shifters, Okt. 2010, in: IEEE Microwave Magazine. 11, 6, S. 97-108, 12 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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Texture, microstructure and mechanical properties of ultrafine grained aluminum produced by accumulative roll bonding, Okt. 2010, in: Advanced Engineering Materials. 12, 10, S. 989-994, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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Zum methodischen Konstruieren von Leichtbaustrukturen aus kohlenstofffaserverstärkten Kunststoffen, Okt. 2010, in: Konstruktion. 10, S. 69-74, 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
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Pulsed stress behavior of platinum thin films, 26 Sept. 2010, 2010 IEEE 16th International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 83-88, 6 S., 5651534Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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0.18-V input charge pump with forward body biasing in startup circuit using 65nm CMOS, 22 Sept. 2010, IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2010. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-4, 4 S., 5617444Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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0.5-V input digital LDO with 98.7% current efficiency and 2.7-µA quiescent current in 65nm CMOS, 22 Sept. 2010, IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2010. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-4, 4 S., 5617586Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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EMI Camera LSI (EMcam) with 12 × 4 on-chip loop antenna matrix in 65-nm CMOS to measure EMI noise distribution with 60-µm spatial precision, 22 Sept. 2010, IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2010. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-4, 4 S., 5617413Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Failure mechanism of solder interconnections under thermal cycling conditions, 16 Sept. 2010, 3rd Electronics System Integration Technology Conference ESTC. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-8, 8 S., 5642843Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Impact of thermal aging on the thermal fatigue durability of Pb-free solder joints, 16 Sept. 2010, 3rd Electronics System Integration Technology Conference ESTC. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-10, 10 S., 5642908Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
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Influence of metallographic preparation on EBSD characterization of Cu wire bonds, 16 Sept. 2010, 3rd Electronics System Integration Technology Conference ESTC. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 1-5, 5 S., 5642846Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband