1996

• Application of polymer matrix composite materials for structural components of small satellitesGöhler, W., Seifart, K., Hufenbach, W. & Holste, C., 1996, International Conference on Spacecraft Structures, Materials and Mechanical Testing. S. 501-505, 5 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Communication by chaotic signals: The inverse system approach (Best Paper Award 1996)Feldmann, U., Hasler, M. & Schwarz, W., 1996, in: International journal of circuit theory and applications. 24, 5, S. 551-579, 29 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Compact model for the grounded-gate nMOS behaviour under CDM ESD stressRuss, C., Verhaege, K., Bock, K., Roussel, P. J., Groeseneken, G. & Maes, H. E., 1996, in:  Electrical Overstress Electrostatic Discharge Symposium proceedings. S. 302-315, 14 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Konferenzartikel
• Computing the generic index of the circuit equations of linear active networksReissig, G. & Feldmann, U., 1996, in: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems. 3, S. 190-193, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Konferenzartikel
• Der Ingenieurdesigner - Lückenbüßer oder Leitfigur?Groh, R. & Theska, R., 1996Publikation: Beitrag zu Konferenzen > Paper
• Designing ceramic/metal compositesHufenbach, W. & Gerhardy, T., 1996, in: Ceramic forum international : cfi. 73, 3, S. 173-176, 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Fail-Aware Failure DetectorsFetzer, C. & Cristian, F., 1996, S. 200-209, 10 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag zu Konferenzen > Paper
• Fail-Awareness in Timed Asynchronous SystemsFetzer, C. & Cristian, F., 1996, S. 314-321, 8 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag zu Konferenzen > Paper
• Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTSSchüßler, M., Krozer, V., Bock, K. H., Brandt, M., Vecci, L., Losi, R. & Hartnagel, H. L., 1996, in: Microelectronics Reliability. 36, 11-12 , S. 1907-1910, 4 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Scaling behaviour of the correlation length for the two-point correlation function in the random field Ising chainLange, A. & Stinchcombe, R., 1996, in: Journal of Physics A: Mathematical and General. 29, S. 3495-3502Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel