Labor für Optische Feldmessverfahren
Mit dem Labor für Optische Feldmessverfahren stehen der Professur verschiedene flächenhafte Messverfahren für unterschiedlichste experimentelle Aufgabenstellungen zur Verfügung. Neben dem Einsatz von musterbasierten, kohärent-optischen und spannungsoptischen Messverfahren in der Forschung werden die Funktionsprinzipien dieser Messverfahren im Rahmen von Lehrveranstaltungen theoretisch und praktisch vermittelt. Zu diesem Zweck stehen proprietäre Messanlagen, experimentelle Messaufbauten sowie grundlegende Abbildungs- und Aufzeichnungstechnik zur Verfügung.
Messtechnik
- Digitales Bildkorrelationsmesssystem
GOM mbH ARAMIS 4M
Flächenhafte Messung der räumlichen Verzerrung der Messobjekt-Oberfläche und abgeleiteter Größen
Ortsauflösung: 2400x1728 Bildpunkte
Zeitauflösung: bis 168 Hz (in Volläuflösung)
Abbildungsfläche: 15x11 mm2 bis 270x190 mm2 - Laser-Extensometer
Fiedler Optoelektronik GmbH P-50
Hochfrequente einachsige Verzerrungsmessung
Auflösung: 0,1 µm
Kantenabstand: größer 0,5 mm
Genauigkeits-Klasse: 0,2
Messlänge: 50 mm
Scanrate: 200 Hz - Laser-Speckle-Interferometrie
Umbau auf Basis eines Ettemeyer-Messkopfes
Abbildungstechnik
- Konfokal-Digital-Mikroskop mit Laser-Digitalisierung
Keyence VK-X1050
Dreidimensionale mikroskopische Digitalisierung in Echtfarben
Features:
‣ Große Messszenen durch Stitching
von Bild- und Topologiedaten
‣ Rauheitsmessung nach
DIN EN ISO 25178 & DIN EN ISO 4287
‣ Digitalisierung teiltransparenter oder
stark reflektierender Oberflächen
‣ Dickenmessung teiltransparenter
Schichten
‣ Export gewonnener 3D-Daten in
gängigen Datenformaten
Auflösung: 5nm (axial) und 200nm (lateral)
Effektive Schärfentiefe: min. 7mm
- Stereo-Mikroskop
Olympus SZX16
Stufenlos vergrößerte Abbildung mit großem Arbeitsabstand und großer Tiefenschärfe.
Vergrößerung: 7x - 115x
Sichtfeld-Durchmesser: 31,4 - 1,9 mm
Zubehör: LED-Ring-Auflicht mit Segmentsteuerung, digitale Bilderfassung - Durchlicht-Mikroskop
Olympus BX40
Fluoreszenz-Mikroskopie mit optionaler Polarisation
Vergrößerung: 50x, 100x, 200x, 500x
Zubehör: Auflicht, Durchlicht, linearer Polarisator und Analysator - Diverse Long-Distance-Mikroskope, entozentrische und telezentrische Messobjektive und digitale Messkameras