Teilprojekt B04
Inhaltsverzeichnis
2. Förderperiode
Potenziallandschaft und Elektronische Eigenschaften von Verdrehten und Gewölbten 2D Materialien
Das Projekt ist bestrebt fortgeschrittene Transmissionselektronenmikroskopietechniken (TEM) mit Schwerpunkt auf Elektronenholographie (EH) und Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) zu entwickeln und einzusetzen, um die Charakterisierung ausgewählter verdrehter und gekrümmter 2DMs mit korrelierten elektronischen Zuständen zu erleichtern. Das Ziel ist es insbesondere, die Struktur und die Potenziallandschaft im realen Raum bis hinunter zur atomaren Auflösung aufzudecken und niederenergetische elektronische Anregungen sowohl im realen als auch im reziproken Raum zu beobachten.
1. Förderperiode
Demonstration der Atomstruktur und der potentiellen Landschaft sowie der elektronischen Eigenschaften von 2D Materialien mittels Elektronenholographie und Elektronenspektroskopie
Dieses Projekt wird die außeraxiale Elektronenholographie (EH) mit atomarer Auflösung zu einem Charakterisierungswerkzeug für 2DM entwickeln. Dies wird 1) die räumliche und signaltechnische Auflösung verbessern, die derzeit mit konventioneller hochauflösender Transmissionelektronenmikroskopie (TEM) erreicht werden kann; 2) den Zugang zu elektrostatischen Potential- und Ladungsverteilungsmerkmalen im atomaren Maßstab ermöglichen und 3) hochauflösende Informationen über die Konfiguration von Defekt- und Kantenzuständen, chemische Zusammensetzung und Morphologie liefern. In Kombination mit anderen TEM-Techniken, beispielsweise Elektronenbeugung (engl.: ED = electron diffraction) und Elektronenenergieverlustspektroskopie (engl.: EELS = electron-energy loss spectroscopy) sowie der in-situ Anwendung von Temperatur und Elektronenbestrahlung wird der Umfang der Elektronenmikroskopie und Spektroskopie für 2DM deutlich zunehmen.
Teilprojektleitender
Prof. Dr. Axel Lubk