28.04.2026
Chipmetrics: Vorgefertigte elektrische Teststruktur für die schnelle Charakterisierung von Dünnschichten vorgestellt
...erheblich. Nachgewiesene Messfähigkeit Die elektrische Teststruktur wurde in Zusammenarbeit mit der TU Dresden, Professur für Nanoelektronik (Prof. Martin Knaut), validiert. In ersten Experimenten wurde...
Quelle: silicon-saxony.de