FAME: An Open-Source Data Platform for Exploring Metrology Files and More

In der Halbleiter-Messtechnik fallen große Mengen hochkomplexer Messdaten an, die in kleineren Einrichtungen nach wie vor häufig mit Tabellen und traditionellen Ordnerstrukturen verwaltet werden – mit begrenzter Nachvollziehbarkeit und geringer Wiederverwendbarkeit. Der Files&More Explorer (FAME) ist eine offene, skalierbare Datenplattform, die Messdaten, Bilder und zugehörige Metadaten strukturiert speichert und über virtuelle Dateisysteme, Programmierschnittstellen oder grafische Nutzeroberflächen bereitstellt. So werden interoperable, FAIR-orientierte Workflows ermöglicht und insbesondere kleineren Hochschulen, Forschungstransfereinrichtungen und KMU der Einstieg in ein professionelles, nachhaltiges Forschungsdatenmanagement erleichtert.