Publikationen
Analysis of Vth variability in NbOx-based threshold switches
Typ der Veröffentlichung
Konferenzbeitrag
Veröffentlicht in
IEEE Nonvolatile Memory Technology Symposium (NVMTS)
Schlagwörter
Niobium oxide; threshold switching; negative differential resistance
Jahrgang/Erscheinungsjahr
2016
Referiert
Nein
Open Access
Ja
Url/Urn/Doi
10.1109/NVMTS.2016.7781515
Berichtsjahr
2016
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