Publikationen der Professur für Halbleitertechnik
Applications of Microstructured Silicon Wafers as Internal Reflection Elements in Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared Spectroscopy
Typ der Veröffentlichung
Zeitschriftenaufsatz
Veröffentlicht in
Applied Spectroscopy
Schlagwörter
-
Jahrgang/Erscheinungsjahr
2010
Band/Vol.
64
Heftnummer/Issue
9
Seiten
1022-1027
Referiert
Ja
Berichtsjahr
2010
Export
Kategorien
Journal | Konferenzen | Bücher | Patente