Veröffentlichte Konferenzbeiträge 2009 1 bis 10 von 10 EinträgenParshina, L.S.; Novodvorsky, O.A.; Panchenko, V.Ya.; Khramova, O.D.; Cherebilo, Ye.A.; Lotin, A.A.; Wenzel, C.; Trumpaicka, N.; Bartha, J.W.: Electric properties of heterogeneous transitions between n - and p - type ZnO films and n - and p - type silicon substrates. In: Book of abstract of the 17th International Conference on Advanced Laser Technologies, Antalya, Turkey, September 26- October 01 (2009), S. 162Khramova, O.D.; Novodvorsky, O.A.; Panchenko, V.Ya.; Sokolov, V.I.; Parshina, L.S.; Cherebilo, Ye.A.; Lotin, A.A.; Khaydukov, E.V.; Rocheva, V.V.; Wenzel, C.; Bartha, J.W.: The influence of annealing on characteristics ZnO:N films. In: Book of abstract of the 17th International Conference on Advanced Laser Technologies, Antalya, Turkey, September 26- October 01 (2009), S. 69Cherebilo, Ye.A.; Parshina, L.S.; Novodvorsky, O.A.; Panchenko, V.Ya.; Khaydukov, E.V.; Khramova, O.D.; Wenzel, C.; Trumpaicka, n; Bartha, J.W.: Creation of ohmic contacts on n - and p type ZnO films by PLD method. In: Book of abstract of the 17th International Conference on Advanced Laser Technologies, Antalya, Turkey, September 26- October 01 (2009), S. 220Künzelmann, U.: Herstellung und Anwendung von mikrostrukturierten Siliciumwafern als Reflexionselemente für die Untersuchung chemisch-physikalischer Oberflächenprozesse mittels ATR-FTIR-Spektroskopie. In: 14. AKES-Seminar, 06.02.2009 (2009)Künzelmann, U.; Schumacher, H.; Bartha, J.W.: Investigation of Surface Processes by ATR-FTIR Spectroscopy at Microstructured Silicon Wafers. In: 23rd CMP User Meeting, 09.10.2009 (2009)Schumacher, H. ; Künzelmann, U.; Bartha, J.W.: Einsatz spezieller Koppelstrukturen für die FT-IR-spektroskopische Schichtcharakterisierung an Si-Wafern mittels abgeschwächter Totalreflexion. In: ANAKON, 17.-20.03.2009 (Kurzreferate) (2009), S. 288Strobel, C.: Dynamische VHF-PECVD für die großflächige Abscheidung von amorphen und mikrokristallinem Silizium auf Glas- und Foliensubstraten. In: Silicon Saxony Day, Dresden (2009)Nobis, C.; Klaus, C.; Hiemann, H.; Wenzel, C.; Bartha, J.W.; Rudolf, F.: Preparation of coated Au and Cu wires for US and investigation on their impact on the US wedge bond process. In: Smart Systems Integration, 10.-11.03.2009, Brüssel Paper (2009)Strobel, C.; Schmidt, C.; Zimmermann, T. ; Albert, M.; Bartha, J.W.; Kuske, J.: Amorphous and microcrystalline silicon p-i-in solar cells on flexible polymer substrates deposited by an inline VHF-PECVD deposition system. In: Proc. of the 24th European Photovoltaic Solar Engery Conf., Hamburg 2009 (2009)Новодворский, O.A.; Горбатенко, Л. С.; Панченко, В. Я.; Храмова, О. Д.; Черебыло, Е. А.; Венцель, К.; Барта, Й. В.; Бублик, В. Т.; Щербачев, К. Д.: Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием. In: Физика и техника полупроводников, 2009 том 43 (2009), S. 439–444Diese Informationen werden vom Vorgängersystem FIS bereitgestellt.