Rasterelektronenmikroskopie
Hochauflösendes Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode Zeiss DSM 982 Gemini
DSM 982
- Auflösung: probenabhängig, 1 nm bei 20 kV, 4 nm bei 1 kV
- förderliche Vergrößerung: 100.000x – 200.000x -
- Ausgerüstet mit SE-, SE-Inlens- und BSE-Detektor (Robinson-Detektor)
- Pixelauflösungen der Bilder frei wählbar durch externes Bildeinzugs- und Strahlsteuerungssystem DISS der Fa. Point-electronic
- Noran-Voyager-3000-EDX-System mit Si(Li)-Detektor
Konventionelles Rasterelektronenmikroskop mit Wolfram-Kathode Zeiss DSM 950
DSM 950
- Auflösung: probenabhängig, ca. 10 nm bei 20 kV
- förderliche Vergrößerung: 20.000x – 30.000x
- Standard-SE-Detektor und 3d-BSE-Detektor (Point-electronic) mit MeX-Software (Alicona)
- 3d-Rekonstruktionen der Oberfläche, Rauheitsmessungen
- Pixelauflösungen der Bilder frei wählbar durch externes Bildeinzugs- und Strahlsteuerungssystem DISS der Fa. Point-electronic
- Noran-System 7 -EDX-System mit SDD-Detektor
Ansprechpartner:
© Axel Mensch
Wissenschaftlicher Mitarbeiter
NameMr Dipl.-Phys. Axel Mensch
Laborleiter Elektronenmikroskopie, Webredakteur Professur für Biomaterialien
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© Silvia Mühle
Technische Mitarbeiterin
NameMs Dipl.-Ing. Silvia Mühle
Operatorin Rasterelektronenmikroskopie
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