Einrichtungen

Der Schwerpunkt der Forschungsarbeiten an der Professur Werkstoffmechanik und Schadensfallanalyse liegt in der Charakterisierung des Verformungsverhaltens und der Schädigungsmechanismen während der zyklischen mechanischen Beanspruchung. Hierzu gibt es verschiedene Prüfsysteme:

• Ultraschallermüdungsprüfsysteme (Prüffrequenzen um ca. 20.000 Hertz)
• Resonanzfrequenzprüfsysteme (max. Prüfkraft 50 kN, Prüffrequenzen von 100-250 Hertz und 1000 Hertz)
• Servohydraulische Prüfsysteme (verschiedene Prüfkraftbereiche, Prüffrequenzen bis max. 50 Hz)
• Kleinlastprüfsystem (2 kN, Prüffrequenz bis max. 140 Hertz)
• Kavitationsprüfsystem

Die Doktoranden und studentischen Hilfskräfte an der Professur kooperieren eng mit dem Team der Abteilung Werkstoffcharakterisierung und –prüfung des Fraunhofer Instituts für Werkstoff- und Strahltechnik. Im Rahmen dieser Kooperation kann auch auf die dort verfügbaren Kompetenzen im Bereich der Elektronenmikroskopie zurückgegriffen werden. Für die Mikrostrukturcharakterisierung und für fraktographische Untersuchungen stehen hier ein modern eingerichtetes Metallographielabor sowie Raster- und Durchstrahlungselektronenmikroskope mit Röntgen-Mikroanalysesystemen zur Verfügung. Am ultrahochauflösenden Feldemissions-REM können mit den vorhandenen Detektoren (EDX, EBSD, WDX) neben den Standard-Topographieabbildungen vor allem Orientierungs- und Materialzusammensetzungskontraste erzeugt und kombiniert werden.

Im Besonderen sind Abbildungen der Versetzungsstrukturen mittels ECCI in hoher Güte und Auflösung möglich, da mit der vorhandenen Präparationstechnik (u.a. Cross SectionPolisher) die dazu notwendigen Proben hergestellt werden können. Die Ausrüstung des TEM mit zwei Kamerasystemen und einem präzise gesteuerten Probentisch lässt eine sehr effektive und genaue Abbildung der Gitterdefekte (Versetzungen und Korngrenzen) in Kombination mit der Ermittlung der lokalen Kristallorientierung bzw. der Orientierungsunterschiede zu. Zur gezielten Entnahme von TEM-Folien steht ein REM mit Focused Ion Beam Technologie zur Verfügung.