Dimension 3100 Atomic Force Microscope
Aufnahme von Bildern zur Bestimmung der Oberflächenstruktur.
- Hersteller: Digital Instruments
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Messbereich: 100 nm – 100 µm
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Messmethoden: Tapping Mode und Contact Mode
![AFM](https://tu-dresden.de/mn/chemie/ac/ac1/ressourcen/bilder/analytik/afm1.jpg/@@images/7d81f520-abee-4bfe-b40d-1be3ef898b8a.jpeg)
Dimension 3100 AFM
Aufnahme von Bildern zur Bestimmung der Oberflächenstruktur.
Messbereich: 100 nm – 100 µm
Messmethoden: Tapping Mode und Contact Mode
Dimension 3100 AFM