Herstellungsverfahren und experimentelle Methoden
An der Professur für Organische Halbleiter haben wir die Möglichkeit, die notwendigen Proben und Bauteile - je nach der Beschaffenheit der zu verarbeitenden Materialien - auf verschiedene Weise herzustellen. Dazu zählen insbesondere:
- Thermisches Verdampfen kleiner Moleküle, Metalle und Metalloxide im Hochvakuum
- Sputtern und Atomlagenabscheidung von Oxiden
- Naßprozessierung von kleinen Molekülen und Polymeren (Aufschleudern, Sprühen, weitere Beschichtungsverfahren)
- 3D Druck von Polymer-basierten Systemen
![Aufdampfanlage UFO-II](https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/oh/ressourcen/bilder/UFO-II.jpg/@@images/e6fab766-9796-44c7-92b5-c6e7d3488b8b.jpeg)
Aufdampfanlage zum Herstellen dünner organischer Schichten
![Glovebox](https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/oh/ressourcen/bilder/Glovebox.jpg/@@images/eed66d4f-3593-487b-a3b9-799b70d7b8c8.jpeg)
Handschuhbox und Abzug zur Herstellung dünner Schichten durch Naßprozessierung (Aufschleudern)
Dazu verfügen wir über eine vielzahl experimenteller Methoden, um die Eigenschaften unsere Proben und Bauteile zu untersuchen. Hierzu zählen:
- Standard-Charakterisierung von OLEDs (Strom-Spannungs-Leuchtdichte Kennlinien, Externe Quanteneffizienz basierend auf Ulbrich-Kugel Messungen, OLED Lebensdauer, winkelaufgelöste Elektrolumineszenz, zeitaufgelöste Elektrolumineszenz)
- Rasterkraftmikroskopie und Profilometrie
- Ellipsometrie
- Photolumineszenz Quantenausbeute im Bereich von 380 bis 780 nm (in dünnen Schichten und Lösungen)
- Winkelaufgelöste Photolumineszenz
- Zeit- und spektral aufgelöste Spektroskopie (auf Basis von zeitkorrelierter Einzelphotonenzählung [Nanosekunden] und schnellen Photodioden [Millisekunden])
- Messung von Bauteilgrößen (Strom, Spannung, emittiertes Licht) als Funktion der Temperatur in einem Kryostaten mit Peltierkühlung
- Messungen unter verschiedenen Umgebungsbedingungen durch eine Gasmischanlage
![Ellipsometer](https://tu-dresden.de/mn/physik/iap/oh/ressourcen/bilder/Ellipsometer.jpg/@@images/a3c1ca96-6be4-40e1-9f84-a3678c980c45.jpeg)
Ellipsometer