2005
In situ differential reflectance spectroscopy of thin crystalline films of PTCDA on different substrates
Typ der Veröffentlichung
Zeitschriftenaufsatz
Veröffentlicht in
Phys. Rev. B
Jahrgang/Erscheinungsjahr
2005
Band/Vol.
71
Seiten
165207
Referiert
Nein
Zugeordnete Forschungsprojekte
- Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in epitaktisch gewachsenen Schichten (OMBE)
Berichtsjahr
2005
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