1991-1995
MODULATED ELLIPSOMETRY FOR CHARACTERIZATION OF MULTIPLE-QUANTUM WELLS AND SUPERLATTICES
Typ der Veröffentlichung
Zeitschriftenaufsatz
Veröffentlicht in
THIN SOLID FILMS
Jahrgang/Erscheinungsjahr
1993
Band/Vol.
233
Heftnummer/Issue
1-2
Seiten
112-116
Referiert
Nein
ISSN
0040-6090
Url/Urn/Doi
Berichtsjahr
1993
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