Neues Rasterelektronenmikroskop
Das Institut für Baustoffe verfügt seit Dezember 2014 über ein neues Niederdruck-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode, Typ QUANTA FEG 250 (FEI). Das Mikroskop ist ausgestattet mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskop (EDX) und einer µRFA (Röntgenfluoreszenz). Die Spezifikation des Mikroskops erlaubt die Untersuchung nichtleitender Proben im naturbelassenen Zustand unter verschiedenen klimatischen Bedingungen mit bis zu 100 % relativer Feuchte.
Arbeitsplatz Quanta FEG 250
Rückseite Säule mit EDX und µRFA
Vakuumbereiche
Hochvakuum 6 x 10-4 Pa
Niedervakuum 10 – 130 Pa.
ESEM-Modus 10 – 4000 Pa
Mögliche Auflösungen
1,0 nm bei 30 kV im Hochvakuum und ESEM Modus (SE)
1,4 nm bei 30 kV im Niedervakuum und ESEM Modus (SE)
3 nm bei 1 kV im Hochvakuum (SE)
3 nm bei 3 kV im Niedervakuum (SE)
2,5 nm bei 30 kV im Hochvakuum und Niedervakuum (RE)