b2hd-braun00

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Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern

Ch. Braun, P. Guidi, H.U. Schmidt, A. Taenzer, H.G. Krauthäuser, and J. Nitsch. Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern. In Elektromagnetische Verträglichkeit EMV 2000, pp. 573–580, Düsseldorf, Germany, 2000.

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