b2hd-krauthaeuser08d

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Vergleich der Einkopplung in Linearstrukturen in verschiedenen Messumgebungen

S. Plate, T. Leibl, and H.G. Krauthäuser. Vergleich der Einkopplung in Linearstrukturen in verschiedenen Messumgebungen. In Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, pp. 373–380, VDE-Verlag, Düsseldorf, Germany, February 2008. ISBN 978-3-8007-3075-9

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@InProceedings{krauthaeuser08d, author = {Plate, S. and Leibl, T. and Krauthäuser, H.G.}, title = {Vergleich der Einkopplung in Linearstrukturen in verschiedenen Messumgebungen}, booktitle = {Elektromagnetische {V}erträglichkeit, {EMV} 2008, {I}nternationale {F}achmesse und {K}ongress für {E}lektromagnetische {V}erträglichkeit}, pages = {373--380}, year = 2008, editor = {Gonschorek, K.-H.}, address = {Düsseldorf, {G}ermany}, month = feb, publisher = {{VDE}-{V}erlag}, note = {{ISBN} 978-3-8007-3075-9} }

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