31.01.2018

MVT-Forschungsarbeit zur Nanomaterial-Charakterisierung mit Young Scientist Award ausgezeichnet

Während der "International Conference and Workshop Dispersion Analysis & Materials Testing 2018" wurde Herr Dipl.-Ing. Christian Ullmann für seine Forschungsarbeit über die Evaluation der analytischen Zentrifugation für die Partikelgrößenanalyse von Real-World-Nanomaterialien mit dem "Young Scientist Award" ausgezeichnet. Professor Dr. rer. nat. Dietmar Lerche überreichte den von der LUM GmbH gestifteten Preis für herausragende wissenschaftliche Leistungen auf dem Gebiet der Partikel- und Dispersionsanalyse sowie Materialtestung am 30.01.2018 in Berlin.

Die  Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter des Instituts gratulieren Ihm zur Preisverleihung recht herzlich und wünschen ihm für seine weitere berufliche und private Zukunft alles Gute und weiterhin viel Erfolg.

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Christian Andreas Ullmann
Letzte Änderung: 05.02.2018