Teilprojekt B09

Auswirkung Ausgedehnter Defekte auf die Optoelektronischen Eigenschaften Neuartiger 2D Materialien

Ziel des Projektes wird es sein, ein umfassendes Verständnis über die Rolle von ausgedehnten strukturellen Defekten in organischen 2D Halbleitern auf angeregte Ladungsträger und deren Wechselwirkung mit externer Belastung für eine mögliche Anwendung in der Optoelektronik zu entwickeln. Um dieses Ziel zu erreichen, ist die Optimierung und Erweiterung eines ex- und in-situ-Ansatzes der elektrischen Rasterkraftmikroskopie (engl.: atomic force microscopy (AFM)) und Lumineszenzmikroskopie vorgesehen.

Teilprojekteleitende

Dr. Ilka Hermes

Projektstatus

Das Projekt wird seit 07/2024 gefördert.