s-SNOM - Streuende Nahfeldmikroskopie

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s-SNOM

© S. Kehr

Die optische Nahfeldmikroskopie ermöglicht es, optischen Eigenschaften von Oberflächen weit unterhalb des konventionellen Beugungslimits zu untersuchen. Insbesondere bei Verwendung von langwelligem Licht im Infraroten und THz-Bereich können so Rekord-Auflösungen von 1/4600 der Wellenlänge erreicht werden. 

Die SNOM-Gruppe interessiert sich vor allem für 

  • Methodische Weiterentwicklungen, insbesondere im Bezug auf Untersuchungen 

    • bei tiefen Temperaturen,
    • mit hoher Zeitauflösung,
    • bei extremen Wellenlängen.
  • Materialuntersuchung und Oberflächencharakterisierung an 
    • komplexen Oxiden,
    • dotierten Halbleitern,
    • Metamaterialien, insbesondere Superlinsen.
  • Untersuchung von lokalen physikalischen Effekten wie
    • Nahfeldoptische resonante Anregung durch Polariton-Moden,
    • Lokale optische Anregung in Halbleitern,
    • Strukturelles Verhalten an Phasenübergängen bei tiefen Temperaturen.

Mitglieder der SNOM-Gruppe: Frederik Kuschewski, Denny Lang (HZDR), Jonathan Döring, Susanne Kehr, Lukas Wehmeier und Stefaan Hessmann (von links nach rechts), sowie Thales de Oliveira, Tobias Nörenberg, Edward Van Sieleghem und Maximilian Obst (nicht auf Foto).

SNOM Gruppe © Foto: HZDR/Oliver Killig SNOM Gruppe © Foto: HZDR/Oliver Killig
SNOM Gruppe

© Foto: HZDR/Oliver Killig

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Susanne Kehr
Letzte Änderung: 22.02.2018