s-SNOM - Streuende Nahfeldmikroskopie
Die optische Nahfeldmikroskopie ermöglicht es, optischen Eigenschaften von Oberflächen weit unterhalb des konventionellen Beugungslimits zu untersuchen. Insbesondere bei Verwendung von langwelligem Licht im Infraroten und THz-Bereich können so Rekord-Auflösungen von 1/4600 der Wellenlänge erreicht werden.
Die SNOM-Gruppe interessiert sich vor allem für
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Methodische Weiterentwicklungen von optischer Nahfeldmikroskopie (SNOM) und spitzenverstärkter Raman-Spektroskopie (TERS), insbesondere im Bezug auf Untersuchungen
- bei tiefen Temperaturen,
- mit hoher Zeitauflösung,
- bei extremen Wellenlängen.
- Materialuntersuchung und Oberflächencharakterisierung an
- komplexen Oxiden,
- dotierten Halbleitern,
- modernen 2D-Materialien,
- Metamaterialien, insbesondere Superlinsen.
- Untersuchung von lokalen physikalischen Effekten wie
- Nahfeldoptische resonante Anregung von Polariton Moden,
- Kanalisierte topologische Polaritonen
- Lokale optische Anregung in Halbleitern,
- Strukturelles Verhalten an Phasenübergängen bei tiefen Temperaturen.
- Theoretische Simulationen zum tieferen Verständnis von
- Resonanter nahfeldoptischer Wechselwirkung,
- Einfluss von strukturierten Oberflächen.
Mitglieder der SNOM-Gruppe: Lukas M. Eng, Hamed Amin Pour (ehemaliges Mitglied), Susanne C. Kehr, Lukas Wehmeier (ehemaliges Mitglied), Thales de Oliveira (ehemaliges Mitglied), Heba Addoushy (ehemaliges Mitglied), Maximilian Obst und Tobias Nörenberg (ehemaliges Mtglied) (von links nach rechts) sowie Felix Kaps, Robin Buschbeck, Jakob Wetzel, Emil Mahnke und Naomi Fugal (nicht auf dem Photo).
