Prof. Jürgen Czarske erhält den SPIE Chandra S. Vikram Award

Professor Jürgen Czarske wird von der internationalen Gesellschaft für Optik und Photonik (SPIE, Bellingham, Washington, USA) ausgezeichnet. In Würdigung seiner innovativen Beiträge zum computergestützten Lasermessverfahren wird ihm der renommierte SPIE Chandra S. Vikram Award – eine der weltweit höchsten Auszeichnungen für optische Messtechnik – verliehen. So wurde er, als einziger Forscher aus Deutschland, bei der diesjährigen SPIE Photonics West-Konferenz in San Francisco auf der sogenannten „Wall of Fame“ präsentiert. Die Preisverleihung wird im August 2022 auf der SPIE-Jahrestagung in San Diego stattfinden.

Prof. Czarske leitet an der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik die Professur für Mess- und Sensorsystemtechnik und das Kompetenzzentrum Biomedical Computational Laser Systems (BIOLAS). Gemeinsam mit seinem Team erforscht er digital programmierbare optische Komponenten für Anwendungen in verschiedensten Bereichen. Von der Energieeinsparung in Brennstoffzellen, über die sichere Internet-Datenübertragung mit Multimode-Glasfasern, bis hin zur Untersuchung von neurodegenerativen Erkrankungen mit Organoiden oder der Krebsdiagnostik unter Nutzung von künstlicher Intelligenz und linsenlosen haarfeinen Endoskopen: Prof. Czarskes innovative Forschung stellt enorme Anwendungspotentiale dar.

„Es sind fantastische Neuigkeiten und ich bin überglücklich über die Ehrung mit dem SPIE Vikram Award, der dem Team und meiner Familie gewidmet ist,“ freut sich Prof. Czarske.

SPIE ist die internationale Gesellschaft für Optik und Photonik. Sie wurde 1955 in den USA gegründet, hat einen Einflussbereich auf 255,000 Forscher:innen aus 183 Ländern. Die SPIE organisiert wissenschaftliche Konferenzen, veröffentlicht Fachzeitschriften und engagiert sich für die weitergehende Ausbildung von Studierenden, Forscher:innen und Entwickler:innenn auf dem Gebiet der Optik und Photonik.

Prof. Czarske ist seit mehr als 35 Jahren ein wegweisender Forscher für paradigmenändernde Messinstrumente. Er ist Advisor des TU Dresden Student Chapter der SPIE und wurde 2020 mit dem IEEE Laser Instrumentation Award (New York City) ausgezeichnet.