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Veröffentlichte Journale 2010

11 bis 13 von 13 Einträgen

Roessler, T.; Gluch, J.; Albert, M.; Bartha, J.W.: Electrical characterisation of HfYO MIM-structures deposited by ALD. In: Thin Solid Films 518 (2010), S. 4680–4683

Schumacher, H.; Künzelmann, U.; Vasilev, B.; Eichhorn, K.-J.; Bartha, J.W.: Applications of Microstructured Silicon Wafers as Internal Reflection Elements in Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared Spectroscopy. In: Applied Spectroscopy 64 (2010), Nr. 9, S. 1022–1027

Kubasch, C.; Klaus, C.; Ruelke, H.; Mayer, U.; Bartha, J.W.: Investigation of Moisture Uptake in Low-k Dielectric Materials. In: IEEE Transaction on Electron Devices 57 (2010), Nr. 8, S. 1865–1872

Diese Informationen werden vom Vorgängersystem FIS bereitgestellt.

Philipp Wenskus

Letzte Änderung: 22.09.2016